单晶硅标样价格,厂家,上海桑戈供

用于扫描电镜放大倍数校准（同时评估图象扭曲度），也可用于光学显微镜。5mm x 5mm见方，每10μm ()有一方格，格与格之间分割线大约为μm宽，每隔500μm有一稍宽的分隔线，用于光学显微镜检测；分隔线和方格由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅标样上，从而低倍电镜或者光镜进行内部标定。

可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。

订购信息：

货号                                                     产品名称                                                               规格

79502-01                     Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样                                       1

79502-10                     Silicon Test Specimen, Unmounted                                                  10/pk

79502-12                     Silicon Test Specimen on Pin Stub                                           1

79502-20                     Silicon Test Specimen for Incident LM                                                    1

79502-30                    Calibration Certificate带有认证书的单晶硅试样                                          1

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