本设备融各专业**前沿技术于一体,涵盖自动输入、精细抓取、真空取放、视觉检查、自动转向、电性能测试、激光打印、自动分类、自动编带等功能。可用于SC59、SOIC、TO220、QFN、SC75、SOT89、D2-PAK、SC70等系列芯片的测试分选。 测试站使用转塔式设计,能够经过方便的整合,适用于另一种 类型的芯片的测试与分选。 ⊙电性能测试使用Kelvin或标准方式接触。 ⊙比较高35,000件/小时速度(0测试时间)。 ⊙远程诊断,远程维护,**升级软件。

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